发明名称 使用微晶片的光分析方法及光分析装置、以及光分析装置用微晶片及光分析用处理装置
摘要 [课题]可使用可抛弃的微晶片,于需要分析的现场,高精度进行各种分析。[解决手段]于平板电脑终端(3)(处理装置)的显示器(3a)上,配置微晶片(1),将检体(4)往该微晶片(1)的流通路径滴下,在微晶片内部(流通路径)使检体的反应产生。对该微晶片(1),照射从平板电脑终端(3)的显示器(3a)放出之光线,藉由该照射光,测定在微晶片(1)内产生的反应。例如,作为测定方法,采用使用照射光的激发萤光法时,观测到对应前述反应的萤光,藉由目视来观察或藉由平板电脑终端(3)的内藏相机来检测该光线。该检测讯号系藉由平板电脑终端(3)的运算装置被运算处理,进行分析,分析结果会被输入至外部。
申请公布号 TW201447274 申请公布日期 2014.12.16
申请号 TW103104702 申请日期 2014.02.13
申请人 国立大学法人九州大学 发明人 兴雄司;森田金市
分类号 G01N21/64(2006.01);G01N35/08(2006.01);G01N37/00(2006.01) 主分类号 G01N21/64(2006.01)
代理机构 代理人 <name>林志刚</name>
主权项
地址 日本