发明名称 |
记忆体单元、制造方法、半导体装置结构及记忆体系统;MEMORY CELLS, METHODS OF FABRICATION, SEMICONDUCTOR DEVICE STRUCTURES, AND MEMORY SYSTEMS |
摘要 |
本发明揭示磁性记忆体单元、制造方法、半导体装置结构及记忆体系统。一磁性单元核心包含:至少一磁性区域(例如,一自由区域或一固定区域),其经组态以展现一垂直磁性定向;至少一基于氧化物之区域,其可以系一穿隧接面区域或一个氧化物顶盖区域;及至少一磁性介面区域,其可包括铁(Fe)或由铁组成。在一些实施例中,该磁性介面区域藉由一磁性区域与至少一基于氧化物之区域隔开。该磁性介面区域之存在增强该磁性单元核心之垂直磁性非等向性(PMA)强度。在一些实施例中,相较于缺少该磁性介面区域之相同磁性单元核心结构之PMA强度,该PMA强度可增强50%以上。 |
申请公布号 |
TW201448170 |
申请公布日期 |
2014.12.16 |
申请号 |
TW103108820 |
申请日期 |
2014.03.12 |
申请人 |
美光科技公司 |
发明人 |
陈伟;莫西 桑尼尔;库拉 维托 |
分类号 |
H01L27/04(2006.01);H01L45/00(2006.01) |
主分类号 |
H01L27/04(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>陈长文</name> |
主权项 |
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地址 |
美国 |