发明名称 记忆体单元、制造方法、半导体装置结构及记忆体系统;MEMORY CELLS, METHODS OF FABRICATION, SEMICONDUCTOR DEVICE STRUCTURES, AND MEMORY SYSTEMS
摘要 本发明揭示磁性记忆体单元、制造方法、半导体装置结构及记忆体系统。一磁性单元核心包含:至少一磁性区域(例如,一自由区域或一固定区域),其经组态以展现一垂直磁性定向;至少一基于氧化物之区域,其可以系一穿隧接面区域或一个氧化物顶盖区域;及至少一磁性介面区域,其可包括铁(Fe)或由铁组成。在一些实施例中,该磁性介面区域藉由一磁性区域与至少一基于氧化物之区域隔开。该磁性介面区域之存在增强该磁性单元核心之垂直磁性非等向性(PMA)强度。在一些实施例中,相较于缺少该磁性介面区域之相同磁性单元核心结构之PMA强度,该PMA强度可增强50%以上。
申请公布号 TW201448170 申请公布日期 2014.12.16
申请号 TW103108820 申请日期 2014.03.12
申请人 美光科技公司 发明人 陈伟;莫西 桑尼尔;库拉 维托
分类号 H01L27/04(2006.01);H01L45/00(2006.01) 主分类号 H01L27/04(2006.01)
代理机构 代理人 <name>陈长文</name>
主权项
地址 美国