| 摘要 |
サンプル把持および加熱アセンブリは、アセンブリ筐体と、アセンブリ筐体に結合された第一および第二の加熱グリップと、を含む。第一および第二の加熱グリップは、把持表面を各々含み、第一および第二の加熱グリップの把持表面はお互いに反対側にある。第一および第二の加熱グリップの各々は、把持表面に隣接する加熱素子をさらに含む。任意で、サンプル把持および加熱アセンブリは、プローブの加熱用のプローブ加熱素子を有するプローブヒータを含む加熱システムに含まれる。加熱システムは、サンプル把持および加熱アセンブリと結合されたステージと、プローブヒータと結合された変換器アセンブリとを有する試験アセンブリに含まれる。【選択図】図２ |
