发明名称 故障テストのための回路および方法
摘要 集積回路センサが、高速遅延故障テストクロック信号を生成するための回路および方法を含む。トリム可能な発振器が、センサ出力信号を提供するように、出力プロトコルプロセッサにより使用されるためのマスタークロック信号を生成する。マスタークロック信号のパルスの同様なエッジと実質的に一致するエッジをそれぞれ有するラウンチパルスおよびキャプチャパルスを有するテストクロック信号を生成するために、故障テストクロック信号生成器が、マスタークロック信号およびテストトリガ信号に応答し、ラウンチパルスおよびキャプチャパルスの間の間隔が、トリム可能なマスタークロック信号によって定められる。
申请公布号 JP2014533356(A) 申请公布日期 2014.12.11
申请号 JP20140539969 申请日期 2012.10.15
申请人 アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー 发明人 フォレスト,グレン・エイ;クック,アーロン;ブリア,ダナ;フェルナンデス,デボン;ナカヤマ,ナオタ
分类号 G01R31/28;H01L21/822;H01L27/04 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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