发明名称 非挥发性半导体记忆装置
摘要 本发明之非挥发性半导体记忆装置包括:记忆胞电晶体;字元线;列解码器;位元线;感测放大器;第1位元线箝位用电晶体,其串联连接于上述位元线与上述感测放大器之间;第2位元线箝位电晶体,其与上述第1位元线箝位用电晶体并联连接,且电流驱动能力高于上述第1位元线箝位用电晶体;及位元线控制电路,其于自上述位元线开始充电起之特定之期间,以共通之闸极电压使上述第1及第2位元线箝位用电晶体导通,且于上述特定之期间经过之后,仅使上述第2位元线箝位用电晶体断开。
申请公布号 TWI464738 申请公布日期 2014.12.11
申请号 TW099129330 申请日期 2010.08.31
申请人 东芝股份有限公司 日本 发明人 本多泰彦
分类号 G11C16/06;G11C16/26 主分类号 G11C16/06
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种非挥发性半导体记忆装置,其包括:记忆胞电晶体,其可电性覆写资料;字元线,其连接于上述记忆胞电晶体之闸极;列解码器,其对上述字元线施加读出电压;位元线,其连接于上述记忆胞电晶体之汲极;感测放大器,其经由上述位元线而判定上述记忆胞电晶体之资料;第1位元线箝位用电晶体,其串联连接于上述位元线与上述感测放大器之间;第2位元线箝位用电晶体,其与上述第1位元线箝位用电晶体并联连接,且电流驱动能力高于上述第1位元线箝位用电晶体;及位元线控制电路,其于自上述位元线开始充电起之特定之期间,以共通之闸极电压使上述第1及第2位元线箝位用电晶体导通,且于上述特定之期间经过之后,仅使上述第2位元线箝位用电晶体断开;上述列解码器系藉由将上述字元线之电位自第1读出电压切换成较上述第1读出电压高之第2读出电压,而可连续地读出上述记忆胞电晶体所保持之资料;且上述位元线控制电路系于上述字元线之电位自上述第1读出电压切换成上述第2读出电压时起之特定之期间,以共通之闸极电压使上述第1及第2位元线箝位用电晶体导通,且于上述特定之期间经过之后,仅使上述第2位元线箝位用电晶体断开。
地址 日本