发明名称 |
一种用于检测液晶模块内部器件干涉的装置及方法 |
摘要 |
本发明涉及一种用于检测液晶模块内部器件干扰的装置及方法,属于液晶测试领域,该装置包括液晶屏、检验纸A、检验纸B和侧盖板,检验纸A和检验纸B通过双面胶粘接液晶屏TCON板上任意形状的器件上或者通过双面胶粘接在侧盖板上,检验纸A表面涂有微囊生色物质,检验纸B表面涂有显色物质,施压时微囊破裂,生色物质与显色物质相互反应,反应生成的现象出现在检验纸A上。本发明中使用的检测纸柔性好、厚度可调,可以通过双面胶粘接在液晶屏TCON板任意形状器件上,对于干涉轻微或者处于临界干涉状态的情况亦可正常检测使用,使用方便检测简单,解决了现有技术检测液晶屏上器件和侧盖板是否发生干涉时工序的太过复杂的问题。 |
申请公布号 |
CN104199202A |
申请公布日期 |
2014.12.10 |
申请号 |
CN201410448489.9 |
申请日期 |
2014.09.04 |
申请人 |
中航华东光电有限公司 |
发明人 |
潘立豹;刘儒锋;吴科东;钱林杰;赵伦保;李静;向艳 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 |
代理人 |
朱圣荣 |
主权项 |
一种用于检测液晶模块内部器件干涉的装置,其特征在于:该装置包括液晶屏、检验纸A(1)、检验纸B(5)和侧盖板(4),检验纸A(1)和检验纸B(5)为柔性纸通过双面胶粘接在液晶屏上的器件(3)上或侧盖板(4)上。 |
地址 |
241000 安徽省芜湖市弋江区城南高新技术开发区华夏科技园 |