发明名称 基于初始化时段期间的测量选择参数/模式的方法和装置
摘要 本发明公开了基于初始化时段期间的测量选择参数/模式的方法和装置。在一个方面,集成电路包括:阈值检测电路,被耦合来在集成电路的初始化时段期间测量来自包括与集成电路的第一外部端子耦合的一个或多个组件的第一外部电路的信号。选择电路被耦合到阈值检测电路,以在集成电路的初始化时段期间响应于来自第一外部电路的信号而选择集成电路的参数/模式。第一外部端子还被耦合到一个或多个各自包括一个或多个组件的额外的外部电路。这些外部电路被耦合来在第一外部端子处提供将在除初始化时段之外的时间的正常工作期间被集成电路使用的一个或多个信号,以在集成电路的初始化时段完成之后为集成电路提供至少一种额外功能。
申请公布号 CN101677216B 申请公布日期 2014.12.10
申请号 CN200910169094.4 申请日期 2009.09.21
申请人 电力集成公司 发明人 亚历克斯·B·德詹古里安;罗伯特·J·马耶尔;肯特·王
分类号 H02M3/335(2006.01)I 主分类号 H02M3/335(2006.01)I
代理机构 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人 宋鹤;南霆
主权项 一种集成电路,包括:阈值检测电路,该阈值检测电路被耦合来在所述集成电路的初始化时段期间测量来自第一外部电路的第一信号,其中,所述第一信号为电流信号并且所述第一外部电路包括与所述集成电路的第一外部端子耦合的一个或多个组件;选择电路,该选择电路被耦合到所述阈值检测电路,以在所述集成电路的初始化时段期间响应于来自所述第一外部电路的所述第一信号而选择所述集成电路的参数/模式,其中所述第一外部端子还被耦合到一个或多个各自包括一个或多个组件的额外的外部电路,其中所述一个或多个额外的外部电路被耦合来在所述第一外部端子处提供将在除所述初始化时段之外的时间的正常工作期间被所述集成电路使用的一个或多个信号,以在所述集成电路的初始化时段完成之后为所述集成电路提供至少一种额外功能,其中所述阈值检测电路还被耦合来在所述初始化时段期间在第二外部端子处接收第二信号;以及开关,所述开关被耦合在所述集成电路的第二外部端子与第三外部端子之间;其中所述第一信号和所述第二信号都在所述初始化时段期间都被所述阈值检测电路测量,所述初始化时段是在一调节电路已将供给电容器充电到阈值时开始的。
地址 美国加利福尼亚州