一种针对扫描测试中捕获功耗的优化方法

摘要

本发明公开了一种针对扫描测试中捕获功耗的优化方法，包括如下步骤：生成带扫描链网表；门控时钟单元分组；功耗约束单元设计；结合生成带扫描链的网表，进行芯片版图上设计，芯片版图设计包括布图规划、布局、时钟树综合和布线；在完成芯片版图设计后，将带扫描结构的门级网表、工艺库、时序约束文件和测试协议读入自动测试向量生成工具，进行可测试性设计规则检查，最后生成测试向量；对生成的测试向量进行门级仿真。本发明可以大幅度减少测试过程中的捕获功耗，同时本发明不会导致覆盖率下降和测试向量数目激增，不需要测试设计流程的改变，而且容易实现。

主权项

一种针对扫描测试中捕获功耗的优化方法，其特征在于，包括如下步骤：（1）    生成带扫描链网表；（2）门控时钟单元分组；将门控时钟单元驱动的扫描单元数目相同的门控时钟单元分为一组；任意两个门控时钟组的使能信号可以同时被激活；（3）功耗约束单元设计；对电路中门控时钟单元的门控使能端进行约束，即每个门控时钟单元的门控使能端口前增加一个与门，与门的一个输入端连接到驱动该门控使能信号的相关逻辑，另一个输入端连接到一个或门的输出端，或门的一个输入端连接译码器的低功耗使能信号，另一个输入端连接测试模式信号TestMode的取反值；在正常功能模式下，或门的输出始终为1，保证增加的功耗约束电路不会对芯片正常功能造成影响；在测试模式下，或门的输出取决于低功耗使能信号；（4）结合生成带扫描链的网表，进行芯片版图上设计，芯片版图设计包括布图规划、布局、时钟树综合和布线；（5）在完成芯片版图设计后，将带扫描结构的门级网表、工艺库、时序约束文件和测试协议读入自动测试向量生成工具，进行可测试性设计规则检查，最后生成测试向量；（6）在步骤（5）的基础之上，对生成的测试向量进行门级仿真。