发明名称 | 在单晶基板上形成悬浮物件的方法 | ||
摘要 | 本发明公开一种在单晶(monolithic)基板上形成悬浮物件的方法,其中所述单晶基板的硅基层上具有由至少一湿式蚀刻区、至少一电路区及至少一微结构区所组成的电路层,所述湿式蚀刻区是作为所述电路区与所述微结构区间的区隔,并往下延伸至所述硅基层的表面,进而形成从基板上方蚀刻所述硅基层的蚀刻路径,接着以干式蚀刻的方式分别从硅基层的上、下两面进行蚀刻而悬浮所述微结构区。 | ||
申请公布号 | CN102161469B | 申请公布日期 | 2014.12.10 |
申请号 | CN201010110687.6 | 申请日期 | 2010.02.21 |
申请人 | 汉积科技股份有限公司 | 发明人 | 陈晓翔 |
分类号 | B81C1/00(2006.01)I | 主分类号 | B81C1/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人 | 徐金国 |
主权项 | 一种在单晶基板上形成悬浮物件的方法,其特征在于,其包括:(a)提供一单晶基板,其是由一硅基层以及所述硅基层上方的电路层所组成,所述电路层中具有至少一湿式蚀刻区,且所述湿式蚀刻区是延伸至硅基层的表面;所述电路层具有至少一电路区以及至少一微结构区,且所述湿式蚀刻区是设置于所述电路区与所述微结构区之间;(b)以湿蚀刻的方式移除湿式蚀刻区内的材料,直至所述硅基层;(c)以非等向性的干蚀刻方式,对湿式蚀刻区底部的硅基层进行蚀刻,至一预定的蚀刻深度;在蚀刻完成后,以一帽盖封装所述至少一微结构区的上方;以及(d)在硅基层下表面相对所述电路区的位置处形成一蚀刻阻层,从所述单晶基板下表面移除部分的硅基层,直至步骤(c)中的预定蚀刻深度位置处;在蚀刻完成后,以一帽盖封装所述硅基层相对所述至少一微结构区的下方位置处。 | ||
地址 | 中国台湾新竹市 |