发明名称 |
一种处理器性能测试方法及系统 |
摘要 |
本发明提供一种处理器性能测试方法及系统,其中,该方法包括:制定测试计划,所述测试计划包括配置所述处理器配置信息以及确定所述配置信息中所需测试的性能参数;写入所述处理器配置信息,将所需测试的性能参数赋值为第一参数值;根据所述处理器配置信息形成相应的处理器参数化电路,以及确定DDR类型和测试软件从而对所述所需测试的性能参数进行测试;产生并保存性能测试数据;确定循环测试结束后,输出性能测试结果。利用本发明,实现在电路设计阶段就可以针对性能运行软件仿真,并得到具体而真实的性能数据。 |
申请公布号 |
CN104199771A |
申请公布日期 |
2014.12.10 |
申请号 |
CN201410441952.7 |
申请日期 |
2014.09.02 |
申请人 |
福州瑞芯微电子有限公司 |
发明人 |
廖裕民 |
分类号 |
G06F11/36(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/36(2006.01)I |
代理机构 |
福州市仓山区景弘专利代理事务所(普通合伙) 35219 |
代理人 |
林祥翔;吕元辉 |
主权项 |
一种中央处理器性能测试方法,其特征在于,所述方法包括:(a)制定测试计划,所述测试计划包括配置所述中央处理器配置信息以及确定所述配置信息中所需测试的性能参数;(b)写入所述中央处理器配置信息,将所需测试的性能参数赋值为第一参数值;(c)根据所述中央处理器配置信息形成相应的中央处理器参数化电路,以及确定DDR类型和测试软件从而对所述已经赋值为第一参数值的所需测试的性能参数进行测试;(d)产生并保存性能测试数据;(e)输出性能测试结果。 |
地址 |
350003 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼 |