发明名称 |
电子仪器用试验箱 |
摘要 |
本发明的技术课题在于,提供一种使试验箱(试验室)的电波屏蔽性能提高了的能够精密地进行电子仪器的试验的电子仪器用试验装置,并提供一种即便在玻璃板上形成厚的ITO膜的情况下或者在玻璃板的两面形成ITO膜的情况下,也能良好地观察试验箱主体内部的电子仪器的可视性高的电子仪器用试验箱。它具备在作为试验箱(10)与箱门(20)的抵接部分的试验箱(10)的开口边缘部(12)或者箱门(20)的周边部(22)安装的金属制的销(30、32、33)、和在箱门(20)的周边部(22)或者试验箱(10)的开口边缘部(12)安装的具有电波屏蔽性的衬垫(40、41、42),另外,它还具备在试验箱主体(510的内周面安装的电波吸收体(530)、以及被固定在其表面的明色的绝缘层(540)。 |
申请公布号 |
CN104198837A |
申请公布日期 |
2014.12.10 |
申请号 |
CN201410383737.6 |
申请日期 |
2007.12.12 |
申请人 |
日本轻金属株式会社 |
发明人 |
长嶋道夫;内田胜也;山本克史 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I;G01R29/10(2006.01)I;H05K9/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 |
代理人 |
龙淳 |
主权项 |
一种电子仪器用试验箱,包括内部放置电子仪器并具有屏蔽来自外部的电波的屏蔽性的试验箱主体、和在该试验箱主体上形成的,并设置了具有电波的屏蔽性以及对可视光的透过性的玻璃板的窗户,其特征在于:所述试验箱主体还具有安装在其内周面的电波吸收体、和固定在该电波吸收体的表面的明色绝缘层,所述玻璃板在板玻璃的两面形成有透明氧化物半导体的薄膜。 |
地址 |
日本东京都 |