发明名称 |
自适应线性重采样粒子滤波方法 |
摘要 |
本发明公开了一种自适应线性重采样粒子滤波方法。其包括以下步骤:参数初始化、重要性采样、离子分组并计算有效粒子个数、比较粒子有效个数与设定值和线性重采样。本发明的有益效果是:本发明的自适应线性重采样粒子滤波方法利用自适应线性重采样直接对粒子处理,解决了粒子匮乏的问题,减少了实现的复杂度和增加实时性,提高了实现效率。 |
申请公布号 |
CN104202017A |
申请公布日期 |
2014.12.10 |
申请号 |
CN201410397456.6 |
申请日期 |
2014.08.13 |
申请人 |
电子科技大学 |
发明人 |
魏国华;曾祥东;魏志龙;罗旭;于雪莲 |
分类号 |
H03H21/00(2006.01)I |
主分类号 |
H03H21/00(2006.01)I |
代理机构 |
成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 |
代理人 |
周永宏 |
主权项 |
一种自适应线性重采样粒子滤波方法,其特征在于,包括以下步骤:S1.将粒子滤波参数进行初始化,其中,所述粒子滤波参数包括粒子个数N、时间T、权值门限w<sub>h</sub>与w<sub>l</sub>和粒子有效值N<sub>eff</sub>的权值<img file="FDA0000553489030000016.GIF" wi="94" he="71" />0<w<sub>l</sub><w<sub>h</sub>;S2.利用重要性函数对粒子进行采样,计算粒子的加权值,并进行归一化处理;S3.将粒子进行自适应处理,并判断是否进行线性重采样,具体包括以下步骤:S31.将粒子根据步骤S2中计算得到的加权值按照步骤S1中初始化的粒子滤波参数进行分组;S32.根据公式N<sub>e</sub>=N‑N<sub>hl</sub>计算粒子滤波的有效值个数N<sub>e</sub>,其中,N<sub>hl</sub>=N<sub>h</sub>+N<sub>l</sub>,表示无效粒子的个数,N<sub>h</sub>表示大于w<sub>h</sub>的粒子个数,N<sub>l</sub>表示小于w<sub>l</sub>的粒子个数;S33.将步骤S32中计算得到的N<sub>e</sub>与设定值N<sub>t</sub>进行比较,判断是否进行线性重采样;S4.对步骤S31中得到的分组通过fir线性滤波进行线性重采样处理,重复步骤S2。 |
地址 |
611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号 |