发明名称 热压产品温度曲线的测量方法
摘要 本发明提供一种热压产品温度曲线的测量方法,包括步骤:制作测温板,所述测温板上放置有芯片,所述芯片与所述测温板直接夹设有热电偶线;将所述测温板固定在载台上;将热压焊头移动至所述芯片上,并对所述芯片进行热压焊接;通过与所述热电偶线连接的测量仪测量所述芯片与所述测温板之间的温度。本发明提供的热压产品温度曲线的测量方法,将热电偶线直接压在芯片下面进行测量,这样测量出的温度是芯片实际焊接时的温度,绘制的温度曲线是实际焊接时的温度,能够直观的反应焊接时的温度变化,更加方便的对焊接时的温度进行管控。
申请公布号 CN104201125A 申请公布日期 2014.12.10
申请号 CN201410399038.0 申请日期 2014.08.13
申请人 南通富士通微电子股份有限公司 发明人 卢海伦;洪胜平
分类号 H01L21/66(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人 孟阿妮;郭栋梁
主权项 一种热压产品温度曲线的测量方法,其特征在于,包括步骤:S101:制作测温板,所述测温板上放置有芯片,所述芯片与所述测温板直接夹设有热电偶线;S102:将所述测温板固定在载台上;S103:将热压焊头移动至所述芯片上,并对所述芯片进行热压焊接;S104:通过与所述热电偶线连接的测量仪测量所述芯片与所述测温板之间的温度。
地址 226006 江苏省南通市崇川区崇川路288号