| 发明名称 | 系统频率响应的测量方法 | ||
| 摘要 | 一种系统频率响应的测量方法，包括：生成正弦指数扫频信号作为输入信号；根据所述输入信号得到系统输出信号；构造匹配信号并将所述匹配信号与系统输出信号做卷积得到脉冲响应；从所述脉冲响应中分离出系统线性脉冲响应；根据所述线性脉冲响应求出系统频率响应。本发明可以测量整个频带内脉冲响应且误差小。 | ||
| 申请公布号 | CN104198810A | 申请公布日期 | 2014.12.10 |
| 申请号 | CN201410400525.4 | 申请日期 | 2014.08.14 |
| 申请人 | 深圳市爱普泰科电子有限公司 | 发明人 | 张虎;张军 |
| 分类号 | G01R23/02(2006.01)I;G01R23/16(2006.01)I | 主分类号 | G01R23/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人 | 邓云鹏 |
| 主权项 | 一种系统频率响应的测量方法，其特征在于，包括：生成正弦指数扫频信号作为输入信号；根据所述输入信号得到系统输出信号；构造匹配信号并将所述匹配信号与系统输出信号做卷积得到脉冲响应；从所述脉冲响应中分离出系统线性脉冲响应；根据所述线性脉冲响应求出系统频率响应。 | ||
| 地址 | 518000 广东省深圳市龙华新区观澜凹背社区大富工业区20号硅谷动力新材料产业园A4栋5楼B面 | ||