发明名称 |
用于集成电路测试系统的智能过流保护电路 |
摘要 |
本发明公开了一种用于集成电路测试系统的智能过流保护电路,包括半桥逆变单元、过流检测单元、计时单元和负载等效单元。其中,半桥逆变单元连接过流检测单元;过流检测单元连接计时单元,并对负载等效单元中的电流进行采样;过流检测单元检测到过流信号的持续时间超过计时单元预设的时间长度时,集成电路测试系统锁定;否则忽略过流现象,集成电路测试系统正常工作。本发明应用在集成电路测试系统中,可以提高对误触发或者电容耦合的抗干扰能力,进一步改善整个电路的稳定性能、提高集成电路测试系统的整体可靠性。 |
申请公布号 |
CN102522725B |
申请公布日期 |
2014.12.10 |
申请号 |
CN201110433627.2 |
申请日期 |
2011.12.21 |
申请人 |
北京自动测试技术研究所 |
发明人 |
姜岩峰;张东;鞠家欣;胡爱民;马新国 |
分类号 |
H02H3/093(2006.01)I;G01R1/36(2006.01)I |
主分类号 |
H02H3/093(2006.01)I |
代理机构 |
北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 |
代理人 |
陈曦;贾兴昌 |
主权项 |
一种用于集成电路测试系统的智能过流保护电路,其特征在于包括半桥逆变单元、过流检测单元、计时单元和负载等效单元;其中,所述半桥逆变单元连接所述过流检测单元;所述过流检测单元连接所述计时单元,并对所述负载等效单元中的电流进行采样;所述过流检测单元包括采样电阻、正向脉冲发生器、第一比较器、第二比较器、或门、第一与门和负向脉冲发生器,所述计时单元包括第三比较器和第四比较器;所述采样电阻一端接地,另一端与功率MOS管的源极连接;所述采样电阻将电流信号转化为电压信号并输出到所述第一比较器和所述第二比较器的负向输入端;所述第一比较器和所述第二比较器的输出端分别接入所述或门的输入端;所述或门的输出端一方面连接所述正向脉冲发生器,另一方面连接所述负向脉冲发生器;所述负向脉冲发生器的输出端连接所述第一与门的一个输入端,所述第四比较器的输出端连接所述第一与门的另一个输入端;所述过流检测单元检测到过流信号的持续时间超过所述计时单元预设的时间长度时,集成电路测试系统锁定;否则忽略过流现象,集成电路测试系统正常工作。 |
地址 |
100088 北京市海淀区北三环中路31号 |