| 发明名称 | 检测半导体元件电子特性时使用的探针 | ||
| 摘要 | 1．本外观设计产品的名称：检测半导体元件电子特性时使用的探针。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于检测半导体元件电子特性。3．本外观设计产品的设计要点：产品的形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。 | ||
| 申请公布号 | CN303030648S | 申请公布日期 | 2014.12.10 |
| 申请号 | CN201430119530.9 | 申请日期 | 2014.05.06 |
| 申请人 | 文镛圭 | 发明人 | 文镛圭 |
| 分类号 | 10-07 | 主分类号 | 10-07 |
| 代理机构 | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人 | 张瑾 |
| 主权项 | |||
| 地址 | 韩国首尔阳川区木洞中央本路85斗山小区102-304 | ||