发明名称 |
一种基于调频连续波的光子带隙光纤群折射率测量装置及方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于调频连续波的光子带隙光纤群折射率测量装置及方法,光源的输出尾纤经过准直透镜耦合到半透半反镜中,半透半反镜将光束分为两路,一路经过第一耦合透镜耦合到待测光纤,待测光纤的出射光经准直透镜准直,经反射镜反射后入射到半透半反镜;另一路光经反射镜后入射到半透半反镜;两束光在半透半反镜干涉,其中一路干涉光入射到光功率计,光功率计观测两路光功率,保持两路光功率接近,另一路经过第二耦合透镜入射到探测器转化成电信号,由频谱仪检测输出信号;通过频谱仪检测输出信号与信号发生器产生的调制信号,获取待测光纤在特定波长下的群折射率。本发明采用空间光路,易于和光子带隙光纤耦合,抗环境因素干扰。 |
申请公布号 |
CN104198435A |
申请公布日期 |
2014.12.10 |
申请号 |
CN201410472164.4 |
申请日期 |
2014.09.16 |
申请人 |
北京航空航天大学 |
发明人 |
金靖;宋镜明;张智昊;宋凝芳;徐小斌;张春熹 |
分类号 |
G01N21/41(2006.01)I;G02B6/32(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/41(2006.01)I |
代理机构 |
北京永创新实专利事务所 11121 |
代理人 |
赵文颖 |
主权项 |
一种基于调频连续波的光子带隙光纤群折射率测量装置,包括光源、信号发生器、准直透镜、半透半反镜、反射镜、耦合透镜、待测光纤、准直透镜、反射镜、半透半反镜、光功率计、频谱仪、探测器、第二耦合透镜;光源的输出尾纤经过准直透镜耦合到半透半反镜中,半透半反镜将光束分为两路,一路经过第一耦合透镜耦合到待测光纤,待测光纤的出射光经准直透镜准直,经反射镜反射后入射到半透半反镜;另一路光经反射镜后入射到半透半反镜;两束光在半透半反镜干涉,其中一路干涉光入射到光功率计,光功率计观测两路光功率,保持两路光功率接近,另一路经过第二耦合透镜入射到探测器转化成电信号,由频谱仪检测输出信号;信号发生器产生光源的调制信号,通过频谱仪检测输出信号与信号发生器产生的调制信号,获取待测光纤在特定波长下的群折射率。 |
地址 |
100191 北京市海淀区学院路37号 |