发明名称 SONDA DE MEDIÇÃO PARA AMOSTRAGEM EM METAIS FUNDIDOS
摘要 <p>RESUMO Patente de Invenção: "SONDA DE MEDIÇÃO PARA AMOSTRAGEM EM METAIS FUNDIDOS". A presente invenção refere-se a uma sonda de medição para a amostragem em metais fundidos, em particular em aço fundido, tendo um cabeçote de medição disposto em uma extremidade de imersão de um tubo de suporte, em que o cabeçote de medição compreende pelo menos uma câmara de amostra, em que a câmara de amostra compreende um canal de alimentação, cuja primeira extremidade se abre para dentro da câmara de amostras e cuja segunda extremidade compreende uma abertura de alimen-tação que se projeta da face dianteira do cabeçote de medição de frente para fora do tubo de suporte, e é coberta por uma tampa de proteção, e é ca-racterizada pelo fato de que um escudo protetor está disposto fora do canal de alimentação a montante da abertura de alimentação na direção de ali-mentação a uma distância da abertura de alimentação, em que o escudo protetor cobre a abertura de alimentação e em que o escudo de proteção não circunda totalmente o canal de alimentação lateralmente.</p>
申请公布号 BR102013021434(A2) 申请公布日期 2014.12.09
申请号 BR20131021434 申请日期 2013.08.22
申请人 HERAEUS ELECTRO-NITE INTERNATIONAL N.V. 发明人 DRIES BEYENS;ERIC B. BORTELS
分类号 C21B7/24;G01N1/10 主分类号 C21B7/24
代理机构 代理人
主权项
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