发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS, READ METHOD AND SYSTEM
摘要 <p>본 발명의 반도체 메모리 장치는 복수의 저항성 메모리 셀을 포함하는 메모리 셀 어레이 및 1회 액세스되는 데이터에 대해 독출 감도를 가변시키면서 상기 복수의 저항성 메모리 셀의 저항값 상태를 판별하도록 제어하는 제어 블록을 포함한다. 따라서, 독출 감도를 가변시켜가며 데이터의 독출을 수행함으로써 전력 소모 및 동작 시간의 오버헤드를 최소화할 수 있고, 산포를 극복하여 신뢰성 높은 데이터 독출을 가능케 한다.</p>
申请公布号 KR101470520(B1) 申请公布日期 2014.12.08
申请号 KR20130015046 申请日期 2013.02.12
申请人 发明人
分类号 G11C13/00;G11C16/06 主分类号 G11C13/00
代理机构 代理人
主权项
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