发明名称 I-U-Kennlinien-Messverfahren und I-U-Kennlinien-Messvorrichtung für Solarzellen sowie Programm für I-U-Kennlinien-Messvorrichtung
摘要 Um eine I-U-Kennlinien-Messvorrichtung bereitzustellen, die es ermöglicht, auch bei Verwendung eines Sonnensimulators vom Blitzlichttyp mit guter Genauigkeit die wahre I-U-Kennlinie von Solarzellen zu messen, deren I-U-Kennlinie sich wie z.B. bei Solarzellen mit Heteroübergang im Falle einer kurzen Abtastzeit der Anlegespannung je nach Abtastrichtung unterscheidet, werden eine Teilverhältnisberechnungseinheit 68, die für jeden Spannungswert ein Teilverhältnis berechnet, in welchem der Stromwert einer Dunkelzustands-I-U-Stationärkennlinie DST den Stromwert der Dunkelzustands-I-U-Vorwärtskennlinie DIV und den Stromwert der Dunkelzustands-I-U-Rückwärtskennlinie DVI teilt, und eine Hellzustands-I-U-Stationärkennlinienabschätzeinheit 69 vorgesehen, die basierend auf dem Teilverhältnis, der Hellzustands-I-U-Vorwärtskennlinie PIV und der Hellzustands-I-U-Rückwärtskennlinie PVI eine im Hellzustand und im Stationärabtastmodus zu messende Hellzustands-I-U-Stationärkennlinie PST abschätzt.
申请公布号 DE102013226885(A1) 申请公布日期 2014.12.04
申请号 DE201310226885 申请日期 2013.12.20
申请人 KYOSHIN ELECTRIC CO., LTD;NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCEAND TECHNOLOGY 发明人 HISHIKAWA, YOSHIHIRO;SHIMURA, HARUYA;KAMATANI, KOHEI;KONDO, HAJIME;SHIMONO, AKIO
分类号 H02S50/10;G01R31/26 主分类号 H02S50/10
代理机构 代理人
主权项
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