一种芯片测试探针

摘要

本实用新型公开了一种芯片测试探针，该测试探针能够自由变换测量探针之间的间距，不仅可以对标准引脚间距的芯片进行测量，而且可以对非标引脚间距的芯片进行测量；该测试探针还具有引脚定位功能，测量者只需要根据芯片引脚间距调整好金属探针位置，即可根据引脚定位孔直接进行测量，节省了时间，提高了效率，且结构简单，适于工业化实施。

主权项

一种芯片测试探针，其特征在于该测试探针由测量电路板、金属探针、连接器、支架和测试端点组成；所述测量电路板上一端有用于连接连接器的PAD点，另一端有用于测量信号的测试端点，PAD点与测试端点以印制线的形式直接相连；所述金属探针的根数根据应用场合定制，安装在连接器上，间距固定，且呈一直线排列；金属探针可以在连接器上伸缩，与连接器靠二者之间的摩擦阻力连接；所述连接器其金属探针连接端为一排孔槽，用于安装金属探针，孔槽的个数与金属探针的根数相同；所述连接器上的孔槽采用标准圆形孔槽结构，金属探针的根部与孔槽以可插拔的方式连接；所述连接器的电路连接端与测量电路板上的PAD点相连接；测量电路板上的测试端点的个数与连接器上孔槽的个数相同，所述孔槽与测试端点经过PAD点直线电连通，并与测试端点以相同数字编号的形式一一对应；所述测量电路板四角安装有支架。