发明名称 一种三轴微型陀螺仪的测试装置及测试方法
摘要 本发明公开了一种三轴微型陀螺仪的测试装置及测试方法,前者包括测试组件和带动测试组件转动的驱动件,驱动件的转轴与测试组件的用于安装待测试三轴微型陀螺仪的测试平面间的夹角为α,α大于0度小于90度,其测试方法为将三轴微型陀螺仪安装于测试平面上,使其z轴与测试平面垂直,x轴和y轴与测试平面平行;使驱动件带动测试组件以角速度ω转动;读取三轴微型陀螺仪分别在z轴、x轴和y轴上输出的角速度ω<sub>z</sub>、ω<sub>x</sub>和ω<sub>y</sub>;判断角速度ω<sub>z</sub>、ω<sub>x</sub>和ω<sub>y</sub>是否分别等于ωsinα、ωcosαcosγ和ωcosαsinγ,采用本发明的测试装置及测试方法无需改变测试轴向即可完成三轴微型陀螺仪在三个轴向上的测试,设备实现简单,不仅减少了测试时间,也降低了测试装置的成本。
申请公布号 CN102564456B 申请公布日期 2014.12.03
申请号 CN201110453332.1 申请日期 2011.12.29
申请人 深迪半导体(上海)有限公司 发明人 金魏新
分类号 G01C25/00(2006.01)I 主分类号 G01C25/00(2006.01)I
代理机构 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人 齐永红;郭少晶
主权项 一种三轴微型陀螺仪的测试装置,其特征在于,包括测试组件和带动测试组件转动的驱动件,所述驱动件的转轴与测试组件的用于安装待测试三轴微型陀螺仪的测试平面间的夹角为α,所述α大于0度小于90度;所述测试组件包括测试架和提供所述测试平面的测试主板,所述驱动件带动测试架转动;所述测试架的与驱动件的转轴连接的转轴连接平面与转轴垂直,所述测试架的与测试主板连接的主板连接平面与转轴连接平面相对,且与测试主板的测试平面平行;所述测试架的转轴连接平面通过一法兰盘与驱动件的转轴连接,所述转轴连接平面和驱动件的转轴在法兰盘的两侧与法兰盘相贴合。
地址 上海市浦东新区张江高科技园区蔡伦路1690号2号楼302