电路板测试机构及测试系统

摘要

本实用新型涉及一种电路板测试机构及含有该测试结构的测试系统。该测试机构包括相对设置的第一信号层和第二信号层，其中，第一信号层与第二信号层两个信号过孔之间和/或两侧设有与信号过孔平行的接地参考孔。具有该结构的电路板测试机构，通过在两个信号过孔之间和/或两侧设置接地参考孔，从而过孔结构设计参数多样化，整个测试机构的适用范围变大，且过孔阻抗与传输线阻抗匹配，信号反射降低，从而损耗测试的拟合度提高，测试结果精确；此外，由于上述测试机构过孔损耗低，过孔损耗在整体损耗中所占比重较小，可以忽略不计，从而检测结果更加精确。

主权项

一种电路板测试机构，其特征在于，包括相对设置的第一信号层和第二信号层，所述第一信号层与所述第二信号层之间设有两个平行设置的信号过孔，且两个所述信号过孔之间和/或两侧设有与所述信号过孔平行的接地参考孔，所述信号过孔及所述接地参考孔均为连接所述第一信号层与所述第二信号层的通孔，所述第一信号层上设有与两个所述信号过孔分别连接的两个检测头，所述第二信号层上设有与两个所述信号过孔分别连接的两个接头。