| 发明名称 | 一种高分辨力变量程微尺度材料试验机 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种高分辨力变量程微尺度材料试验机，包括：支架、升降机构、位移传感器、具有一定重量的重力块和电子天平，升降机构安装在支架上，位移传感器的一端设置在升降机构上，所述升降机构用于在高度方向上对位移传感器进行举升；位移传感器的另一端固定有第一夹具，重力块置于电子天平上，重力块上安装有第二夹具，当测量10<sup>-6</sup>N～1N的载荷时，试样夹持在第一夹具和第二夹具之间。本发明可以实现微尺度测量，测量范围为10<sup>-6</sup>N～10<sup>1</sup>N量级。 | ||
| 申请公布号 | CN102636390B | 申请公布日期 | 2014.12.03 |
| 申请号 | CN201210122337.0 | 申请日期 | 2012.04.24 |
| 申请人 | 中国科学院力学研究所 | 发明人 | 郇勇;邵亚琪;代玉静 |
| 分类号 | G01N3/08(2006.01)I;G01L1/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N3/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人 | 胡剑辉 |
| 主权项 | 一种高分辨力变量程微尺度材料试验机，其特征在于，包括：支架、升降机构、位移传感器、夹具、具有一定重量的重力块、电子天平和力传感器，支架由机架底座、机架立板和横梁组成，升降机构安装在支架的横梁上，位移传感器的一端设置在升降机构上，所述升降机构用于在高度方向上对位移传感器进行举升；位移传感器的另一端固定有第一夹具，电子天平放置在机架底座上，重力块置于电子天平上，重力块上固定第二夹具，当测量10<sup>‑6</sup>N～1N的载荷时，试样夹持在第一夹具和第二夹具之间；所述力传感器设置在支架上，该力传感器上固定有第三夹具，当测量1N～10N量级的载荷时，所述试样夹持在第一夹具和第三夹具之间，从而可以进行变量程测试；由于上述夹具的设置，材料试验机可以进行拉、压两种形式的测试。 | ||
| 地址 | 100190 北京市海淀区北四环西路15号 | ||