| 发明名称 | FPGA单粒子效应动态故障测试装置及方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种FPGA单粒子效应动态故障测试装置，包括：控制电路模块(11)、上位机控制模块(12)、可控脉冲激光模块(15)以及三维移动模块(16)；其中，三维移动模块(16)在测试时用于安装待测试的被测FPGA器件(13)；上位机控制模块(12)与控制电路模块(11)连接，控制电路模块(11)连接到可控脉冲激光模块(15)，在测试时，控制电路模块(11)还分别连接到被测FPGA器件(13)以及与被测FPGA器件(13)所对应的对照FPGA器件(14)。 | ||
| 申请公布号 | CN104181421A | 申请公布日期 | 2014.12.03 |
| 申请号 | CN201410419050.3 | 申请日期 | 2014.08.22 |
| 申请人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明人 | 朱翔;封国强;韩建伟;姜昱光;上官士鹏;马英起;陈睿;余永涛 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01R31/3193(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人 | 王宇杨;杨青 |
| 主权项 | 一种FPGA单粒子效应动态故障测试装置，其特征在于，包括：控制电路模块(11)、上位机控制模块(12)、可控脉冲激光模块(15)以及三维移动模块(16)；其中，所述三维移动模块(16)在测试时用于安装待测试的被测FPGA器件(13)；所述上位机控制模块(12)与所述控制电路模块(11)连接，所述控制电路模块(11)连接到所述可控脉冲激光模块(15)，在测试时，所述控制电路模块(11)还分别连接到所述被测FPGA器件(13)以及与所述被测FPGA器件(13)所对应的对照FPGA器件(14)。 | ||
| 地址 | 100190 北京市海淀区中关村南二条1号 | ||