发明名称 |
一种X荧光光谱法对谷物中铅元素的快速测定方法 |
摘要 |
本发明公开了一种X荧光光谱法对谷物中铅元素的快速测定方法,包括步骤一、标准样品标准曲线制作:将系列有标准含量梯度的铅谷物粉末,过目筛,装入样品杯并压实;将系列标准样品上机扫描,获取已知含量标准样的X荧光强度,标定标准曲线;步骤二、待测样品处理:取定量谷物去皮,粉碎过目筛;取其与步骤一中等量粉末制装入样品杯并压实,形成待测样品;上机测试,进行含量计算;本发明可以优化目前的检测精度和重复性,保证了测试结果的高精确性和好的规则性以及好的均匀性,同时还具有处理方法简单,仅使用锤式旋风磨对样品进行粉碎过筛处理即可,时间短,样品前处理仅需2min,仪器测试简单,一键化操作即可以及无仪器环保无任何废弃耗材。 |
申请公布号 |
CN104181183A |
申请公布日期 |
2014.12.03 |
申请号 |
CN201410464620.0 |
申请日期 |
2014.09.12 |
申请人 |
江苏天瑞仪器股份有限公司 |
发明人 |
应刚;余正东;李强;吴敏;王俊鹏;姚栋樑 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种X荧光光谱法对谷物中铅元素的快速测定方法,其特征在于,包括:步骤一、标准样品标准曲线制作:将一系列有标准含量梯度的铅谷物粉末,分别过目筛,装入样品杯并压实;将系列标准样品上机扫描,获取已知含量标准样的X荧光强度,标定标准曲线;步骤二、待测样品处理:取一定量谷物去皮,粉碎过目筛;取其与步骤一中等量的粉末制装入样品杯并压实,形成待测样品;上机测试,进行含量计算。 |
地址 |
215347 江苏省苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园 |