发明名称 功率用半导体装置及其制造方法
摘要 在高速地进行转换的功率用半导体装置中,由于转换时流过位移电流而产生高电压,有时如栅极绝缘膜那样的薄的绝缘膜的绝缘被破坏。本发明的半导体装置具备:第1导电型的半导体衬底(80);形成于所述半导体衬底的第1主面的第1导电型的漂移层(70);形成于所述漂移层的表层的一部分的第2导电型的第1阱区域(50);在所述漂移层的表层的一部分处与所述第1阱区域隔开间隔地设置的从上面看到的面积比所述第1阱区域小的第2导电型的第2阱区域(51);形成于所述第1阱区域的表层的杂质浓度比所述第1阱区域大的第1导电型的低电阻区域(55);接触在所述第1阱区域的表面上而形成的栅极绝缘膜(32);以及接触在所述栅极绝缘膜的表面上而形成的栅电极(21)。
申请公布号 CN102473723B 申请公布日期 2014.12.03
申请号 CN200980160038.2 申请日期 2009.07.15
申请人 三菱电机株式会社 发明人 渡边昭裕;中田修平;三浦成久
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L27/04(2006.01)I;H01L29/12(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 许海兰
主权项 一种功率用半导体装置,其特征在于,具备:第1导电型的半导体衬底;第1导电型的漂移层,形成于所述半导体衬底的第1主面;第2导电型的第1阱区域,形成于所述漂移层的表层的一部分;从上面看到的面积比所述第1阱区域小的第2导电型的第2阱区域,该第2阱区域与所述第1阱区域离开间隔地设置于所述漂移层的表层的一部分;杂质浓度比所述第1阱区域大的第1导电型的低电阻区域,该低电阻区域形成于所述第1阱区域的表层;栅极绝缘膜,接触在所述第1阱区域以及所述低电阻区域的表面上而形成;栅电极,接触在所述栅极绝缘膜的表面上而形成;源电极焊盘;阱接触孔,连接所述第1阱区域与所述源电极焊盘;以及源极接触孔,连接所述第2阱区域与所述源电极焊盘,其中,在所述阱接触孔下部的区域中,所述源电极焊盘与所述低电阻区域相互接触,在所述阱接触孔下部具备杂质浓度比所述低电阻区域高的接触区域。
地址 日本东京