| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Anordnung (1) zur Messung von Drehwinkeln an einem rotierenden Bauteil (3) mit ersten Messmitteln (5), welche eine mit dem rotierenden Bauteil (3) gekoppelte erste Scheibe (32) mit zugehörigen Aufnehmern (34.1, 34.2) umfassen, welche in Abhängigkeit von der Rotationsbewegung des rotierenden Bauteils (3) sich wiederholende Feinsignale liefern, welche zur Bestimmung einer Winkelposition des rotierenden Bauteils (3) auswertbar sind, und mit zweiten Messmitteln (7) zur Erzeugung von Grobsignalen, welche zur Ermittlung der Anzahl der Umdrehungen des rotierenden Bauteils (3) auswertbar sind. Erfindungsgemäß sind die ersten Messmittel (5) als optisches Messsystem ausgebildet, welches mindestens zwei Feinmesskanäle (K1, K2), welche jeweils einen Lichtsender (24.1, 24.2) und einen als Lichtdetektor (34.1, 34.2) ausgeführten Aufnehmer aufweisen, und eine im Strahlungsweg der mindestens zwei Feinmesskanäle (K1, K2) angeordnete als Analysatorrad mit Polarisationsfilter ausgeführte erste Scheibe (32, 32') umfasst, wobei die mindestens zwei Feinmesskanäle (K1, K2) polarisiertes Licht mit unterschiedlichen Polarisationsebenen durch die als Analysatorrad mit Polarisationsfilter ausgeführte erste Scheibe (32, 32') führen.
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