发明名称 一种梯度折射率超常媒质透镜的制造方法
摘要 一种梯度折射率超常媒质透镜的制造方法,涉及一种超常媒质透镜的制造方法。它是为了解决现有的梯度折射率超常媒质透镜参数设定困难、参数选取时间长导致透镜设计复杂、设计周期长的问题。其方法:设定欲制造的超常媒质透镜的折射率并进行连续分布离散化处理,获得欲制造的超常媒质透镜折射率分布关系,采用圆盘形打孔介质作为透镜,采用等效介电常数和磁导率模型表征打孔结构单元的电磁特性;经过计算获得通孔在透镜上的分布情况完成透镜制造。本发明适用于制造梯度折射率超常媒质透镜。
申请公布号 CN103107424B 申请公布日期 2014.12.03
申请号 CN201310056999.7 申请日期 2013.02.22
申请人 哈尔滨工业大学 发明人 孟繁义;刘睿智;张狂;杨国辉;傅佳辉;吴群
分类号 H01Q15/08(2006.01)I;H01Q13/02(2006.01)I;H01Q19/06(2006.01)I 主分类号 H01Q15/08(2006.01)I
代理机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人 张宏威
主权项 一种梯度折射率超常媒质透镜的制造方法,其特征是:它由以下步骤实现: 步骤一、设定欲制造的超常媒质透镜的折射率<img file="FDA0000527210700000011.GIF" wi="606" he="95" />其中r为超常媒质透镜上任意一点距离中心轴的长度;步骤二、将步骤一设定的折射率采用公式: <img file="FDA0000527210700000012.GIF" wi="1023" he="195" />进行连续分布离散化处理,获得欲制造的超常媒质透镜折射率分布关系;式中:k为欲制造的超常媒质透镜上划分出的同心圆环的序号; 步骤三、采用等效介电常数和磁导率模型表征圆环上结构单元的电磁特性;所述的等效介电常数模型采用下式实现: <img file="FDA0000527210700000013.GIF" wi="470" he="140" />式中:ε<sub>d</sub>表示介质板相对介电常数;ε<sub>v</sub>表示空气的介电常数;V<sub>d</sub>表示介质板的体积;V<sub>v</sub>表示空气的体积; 步骤四、在步骤二获得的欲制造的超常媒质透镜折射率分布关系和步骤三中获得的电磁特性下,根据公式: <img file="FDA0000527210700000014.GIF" wi="1019" he="308" />获得各圆环上结构单元所对应圆心角ζ; 步骤五、根据步骤四获得的各圆环上结构单元对应圆心角ζ确定各圆环上的结构单元数量,即各圆环区域上开设通孔的密度; 步骤六、根据步骤五中各圆环上通孔密度得到整个透镜的通孔排布,获得透镜设计结果; 步骤七、根据步骤六获得的透镜设计结果进行制造。 
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