发明名称 |
上探针式接触测试装置 |
摘要 |
本实用新型提供一种上探针式接触测试装置,以解决在现有接触测试装置中,无法使探针始终处于准确位置,并且容易使测试架台发生倾斜的问题。本实用新型由测试架台、导轨、气缸、基座、XY调整台、测试基座、探针、治具、限位器与限位块构成,探针与治具依次安装在测试基座上,测试基座安装在测试架台上,测试架台安装在导轨上,气缸、导轨与限位器均是安装在基座上,基座安装在XY调整台上,气缸与测试架台相连接,限位块安装在测试架台上。本实用新型可进行XY方向的精确位移调整,使探针可以处于准确位置,当气缸推动测试架台向上沿导轨运动时,可确保运动路线与水平面始终保持垂直状态,避免发生倾斜。 |
申请公布号 |
CN203981724U |
申请公布日期 |
2014.12.03 |
申请号 |
CN201420344356.2 |
申请日期 |
2014.06.23 |
申请人 |
北京盈和工控技术有限公司 |
发明人 |
刘卫华 |
分类号 |
G01R1/067(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/067(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种上探针式接触测试装置,其特征在于,由测试架台、导轨、气缸、基座、XY调整台、测试基座、探针、治具、限位器与限位块构成,所述探针与所述治具依次安装在所述测试基座上,所述测试基座安装在所述测试架台上,所述测试架台安装在所述导轨上,所述气缸、所述导轨与所述限位器均是安装在所述基座上,所述基座安装在所述XY调整台上,所述气缸与所述测试架台相连接,所述限位块安装在所述测试架台上。 |
地址 |
100037 北京市海淀区阜成路42号院27号楼205室 |