发明名称 上探针式接触测试装置
摘要 本实用新型提供一种上探针式接触测试装置,以解决在现有接触测试装置中,无法使探针始终处于准确位置,并且容易使测试架台发生倾斜的问题。本实用新型由测试架台、导轨、气缸、基座、XY调整台、测试基座、探针、治具、限位器与限位块构成,探针与治具依次安装在测试基座上,测试基座安装在测试架台上,测试架台安装在导轨上,气缸、导轨与限位器均是安装在基座上,基座安装在XY调整台上,气缸与测试架台相连接,限位块安装在测试架台上。本实用新型可进行XY方向的精确位移调整,使探针可以处于准确位置,当气缸推动测试架台向上沿导轨运动时,可确保运动路线与水平面始终保持垂直状态,避免发生倾斜。
申请公布号 CN203981724U 申请公布日期 2014.12.03
申请号 CN201420344356.2 申请日期 2014.06.23
申请人 北京盈和工控技术有限公司 发明人 刘卫华
分类号 G01R1/067(2006.01)I 主分类号 G01R1/067(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种上探针式接触测试装置,其特征在于,由测试架台、导轨、气缸、基座、XY调整台、测试基座、探针、治具、限位器与限位块构成,所述探针与所述治具依次安装在所述测试基座上,所述测试基座安装在所述测试架台上,所述测试架台安装在所述导轨上,所述气缸、所述导轨与所述限位器均是安装在所述基座上,所述基座安装在所述XY调整台上,所述气缸与所述测试架台相连接,所述限位块安装在所述测试架台上。
地址 100037 北京市海淀区阜成路42号院27号楼205室
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