TFT液晶面板的物理性质测量方法及TFT液晶面板的物理性质测量装置

摘要

本发明提供一种TFT液晶面板的物理性质测量方法，是TFT液晶面板(4，400)的物理性质测量方法，其具有：阻抗设定步骤(步骤S1、步骤S11、步骤S12)，将所述TFT液晶面板(4，400)的TFT(4A，400A)的源极(42A，420A)-漏极(43A，430A)间的阻抗值设定为规定值以下的值；电压施加步骤(步骤S2、步骤S13)，对所述TFT液晶面板(4，400)的液晶层(4B、400B)施加周期性地变化的电压；物理性质测量步骤(步骤S3、步骤S4、步骤S14、步骤S15)，测量在利用所述电压施加步骤(步骤S2、步骤S13)施加了所述周期性地变化的电压的所述液晶层(4B、400B)中流过的过渡电流，测量所述液晶层(4B、400B)的物理性质。

主权项

一种TFT液晶面板的物理性质测量方法，是TFT液晶面板(4，400)的物理性质测量方法，其特征在于，具有：对所述TFT液晶面板(4，400)中的TFT(4A，400A)的栅极电极(41A、410A)施加规定值的电压的步骤(步骤S21、步骤S31)；向所述TFT液晶面板(4，400)中的液晶层(4B，400B)中写入脉冲电压，且将所述TFT(4A，400A)的源极电极(42A，420A)的电位保持为地电平的步骤(步骤S22、步骤S32)；检测出写入了所述脉冲电压的所述液晶层(4B，400B)的电位的变化而测量所述液晶层(4B，400B)中的电压保持率的步骤(步骤S23、步骤S33)，所述液晶层(4B、400B)中的液晶分子被电场驱动，该电场由利用所述TFT(4A，400A)驱动的像素电极(4D，400D)、与该像素电极(4D，400D)对应地设置的共用电极(4C、400C)形成，对所述共用电极施加脉冲电压。