发明名称 实验室测定岩石混入率的方法
摘要 本发明公开了一种实验室测定岩石混入率的方法,用于研究矿石的贫化程度,揭示矿石贫化规律。本发明利用X射线透照不同的物质,能够得到不同的黑度值这一原理,采用X射线发射机、放矿模型、黑度计、增感屏和X射线胶片作为测定装置,标定出具有密度差的松散矿岩以及两者不同混入率与黑度值的对应关系;然后按照相同的测定系统对放矿过程中的松散矿岩进行透照,每放出一定量矿岩便进行一次透照,胶片经显影后测定黑度值,按照已标定的对应关系求出放矿过程中的岩石混入率。通过本发明能够研究放矿过程中的矿石贫化过程,提高矿石质量,提高矿山经济效益。
申请公布号 CN103207190B 申请公布日期 2014.12.03
申请号 CN201310138153.8 申请日期 2013.04.18
申请人 辽宁科技大学 发明人 张国建;由希
分类号 G01N23/02(2006.01)I 主分类号 G01N23/02(2006.01)I
代理机构 鞍山嘉讯科技专利事务所 21224 代理人 张群
主权项 一种实验室测定岩石混入率的方法,其特征在于该方法包括以下内容:一.测定系统1.透照矿岩材料选定两种具有密度差的松散矿岩作为透照材料;岩石级配均匀,粒径范围0<d≤5cm,矿石级配均匀,粒径范围0<d≤5cm;2.透照条件透照条件可选用范围为物距0~200cm,像距0cm,管电压50~450Kv、管电流0~5mA、曝光时间0~10分钟,显影条件为标准显影流程;3.测定装置选择X射线发射机、放矿模型、黑度计、增感屏和X射线胶片为测定装置,测定装置具有固定的布置摆放顺序,放矿模型固定于实验室与射线发射机位置保持不变,X射线机的射线发射窗口正对放矿模型,射线透照方向与模型透照面垂直,内夹胶片的增感屏紧贴射线出射面外侧,固定;二.标定岩石混入率与黑度值对应关系从已知物理属性的透照矿岩中混合出所需标定黑度值的岩石混入率,混入率为0%~100%之间,装入放矿模型并采用相同的测定系统对所需标定黑度值的各个岩石混入率进行透照,胶片经显影后测定黑度值,标定中每一张X射线胶片的黑度值都对应一个岩石混入率,测定装置、透照条件、透照矿岩材料的选用在标定中保持不变,只改变放矿模型内的岩石混入率,直至将各个岩石混入率与黑度值对应关系全部标定后停止,通过标定得到在该测定系统下具有密度差的此两种松散矿岩以及两者不同混入率与黑度值的对应关系;三.测定放矿过程中矿岩材料黑度值采用与标定相同的测定系统进行测定,将矿石材料装入模型下部,岩石材料覆盖于矿石之上,装矿完毕后,不放矿透照一次,而后,恒定单次放矿量,在放矿过程中每放出一次便进行一次透照,在测定中得到的每张胶片都对应放矿中的一个阶段,胶片经显影后测定黑度值,按照由相同测定系统下标定的黑度值与岩石混入率对应关系,求出放矿过程中的岩石混入率。
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