发明名称 荷电粒子射束描绘装置、对试料面之射束入射角调整方法、及荷电粒子射束描绘方法
摘要 本发明之一态样之荷电粒子射束描绘装置之特征为具备有:放出部,其系放出荷电粒子射束;电子透镜,其系使前述荷电粒子射束收敛;遮蔽偏向器,其系相对于光轴方向被配置在比电子透镜更为后侧,若进行切换射束ON与射束OFF的遮蔽控制时,将荷电粒子射束进行偏向;遮蔽孔隙构件,其系相对于光轴方向被配置在比遮蔽偏向器更为后侧,遮蔽以成为射束OFF的状态的方式被偏向的荷电粒子射束;及电磁线圈,其系被配置在遮蔽偏向器的中心高度位置,将荷电粒子射束进行偏向。
申请公布号 TW201445243 申请公布日期 2014.12.01
申请号 TW102148472 申请日期 2013.12.26
申请人 纽富来科技股份有限公司 发明人 中山贵仁;东矢高尚
分类号 G03F1/20(2012.01) 主分类号 G03F1/20(2012.01)
代理机构 代理人 <name>林志刚</name>
主权项
地址 日本