| 摘要 |
本创作提供一种半导体元件检测机的视觉系统改良结构，包括一相机镜头，该改良结构还包括一高度调节机构，高度调节机构包括固设于机台本体上的固定件和沿固定件滑移的滑移件，相机镜头固设于滑移件上，相机镜头的光源通光孔处设有一聚焦镜片，光源在进入光源通光孔后经聚焦镜片聚焦汇集，再经由平面镜90度偏折反射后，从光源出口处照射在半导体元件上。本创作藉由在光源通光孔处增设聚焦镜片，能够将光源转变为聚焦的平行光，增大了光照区域的范围和光源的亮度，从而不会出现光照区域的边缘位置的图像较中心位置较暗的现象，故提高了半导体元件检出能力；此外，藉由高度调节机构能够调节相机镜头到半导体元件的距离，可以适应不同厚度的半导体元件的检测。 |
