发明名称 |
曝光装置、曝光方法以及微型元件制造方法 |
摘要 |
一种保护装置、光罩以及曝光装置,该保护装置包括膜10,该膜10配置于离开形成着用以转印至感应基板上的图案的光罩M。上述膜10对形成着上述图案的面照射的光中,使必要的波长范围的光相对性地透过,使不必要的波长范围的光相对性地不透过。 |
申请公布号 |
TWI463252 |
申请公布日期 |
2014.12.01 |
申请号 |
TW096105005 |
申请日期 |
2007.02.12 |
申请人 |
尼康股份有限公司 日本 |
发明人 |
平柳德行 |
分类号 |
G03F1/48;G03F1/22;G03F7/20;H01L21/027 |
主分类号 |
G03F1/48 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
主权项 |
一种曝光装置,将曝光光照射至设置了用来保护形成着图案的面的保护装置的光罩,以将该图案转印至感应基板上该光罩上,其中该保护装置具有:透过部,配置于离开该形成着图案的面的规定距离的位置,且使该曝光光透过;第1支持部,安装于该光罩,且支持该透过部的周围;以及第2支持部,配置于该曝光光的照射区域,且支持该透过部,其中该曝光装置包括光强度不均修正装置,修正因该第2支持部而产生的该曝光光的光强度不均。 |
地址 |
日本 |