发明名称 用以处理半导体基板的方法、处理矽表面的方法以及系统
摘要 用以低压烘烤以于沉积之前移除半导体表面的杂质的方法与系统。短暂且低温的制程有利地只消耗少量的热预算,同时仍有效地从半导体的表面移除界面氧。此方法与系统特别适合于磊晶之前用来处理半导体的表面。
申请公布号 TWI463538 申请公布日期 2014.12.01
申请号 TW098114220 申请日期 2009.04.29
申请人 ASM美国股份有限公司 美国 发明人 史考特 罗宾 查理斯;强森 梅特
分类号 H01L21/205;C23C16/02;C23C16/46 主分类号 H01L21/205
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 一种用以处理半导体基板的方法,包括:装载该半导体基板至一基板架上,该基板架位于一化学气相沉积反应腔体中;减少该化学气相沉积反应腔体中的压力至一介于1×10-6托尔~10托尔之间的烘烤压力,同时提供一还原气体至该化学气相沉积反应腔体中;增加该反应腔体中的压力,以从该烘烤压力增加至一沉积压力;以及在该沉积压力下以化学气相沉积法沉积一膜层。
地址 美国