用于温度感测及校正之方法、积体电路及系统

摘要

揭示一种用于温度感测器校正之方法及装置。在一项实施例中，在对应于第一温度临限值之第一已知温度测试积体电路(IC)。在测试期间，自温度感测器获得第一温度读数。藉由判定第一已知温度与第一温度读数之间的差来计算第一偏差。将第一偏差记录于储存单元中以供稍后在IC之操作期间使用。在操作期间，可将第一偏差与自温度感测单元获得之温度读数相加以产生经调整温度值。可比较经调整温度值与一或多个温度临限值。基于比较，电力管理单元可执行电力控制动作。

主权项

一种用于温度感测及校正之方法，其包含：在一第一指定温度执行测试一积体电路(IC)；在该第一温度之测试期间读取一温度感测器提供的一第一温度值；判定一第一偏差值，其中该第一偏差值为该第一指定温度与该第一温度值之间的一差；记录该第一偏差值；在该测试之每一反覆期间读取由该温度感测器提供之一或多个额外温度值，包括一第二温度值；判定一或多个对应之额外偏差值，包括一第二偏差值；及记录该一或多个对应之额外偏差值中之每一者；及基于该第一偏差值及该一或多个额外偏差值之每一者判定一偏差变化斜率。