发明名称 |
微粒侦测用微型筛网装置 |
摘要 |
一种微粒侦测用微型筛网装置,其包含:至少一侦测单元,各侦测单元具有一第一筛网,开设有至少一第一筛孔;一间隔片,堆叠结合在该第一筛网之一侧,并开设有至少一间隔孔;一第二筛网,堆叠结合在该间隔片之另一侧,且该第二筛网开设有数个第二筛孔,该第二筛孔之孔径小于该第一筛孔,且该第一筛孔与该第二筛孔于该第一及第二筛网之一垂直方向上形成错位排列;以及至少一感测元件,对位于该第一或第二筛孔,用以侦测落入该第一或通过第二筛孔之微粒。因此,该微粒侦测用微型筛网装置适合应用于侦测或计数各种不同大小微粒,进而有效缩短样本液之检测流程。 |
申请公布号 |
TWI463129 |
申请公布日期 |
2014.12.01 |
申请号 |
TW101116249 |
申请日期 |
2012.05.07 |
申请人 |
财团法人国家实验研究院 新竹市科学园区展业一路26号7楼 |
发明人 |
黄俊铭;陈振嘉;林棋胜;吴建明 |
分类号 |
G01N15/00;C12M1/34 |
主分类号 |
G01N15/00 |
代理机构 |
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代理人 |
刘育志 台北市大安区敦化南路2段77号19楼 |
主权项 |
一种微粒侦测用微型筛网装置,其包含:至少一侦测单元,各侦测单元具有:一第一筛网,开设有至少一第一筛孔;一间隔片,堆叠结合在该第一筛网之一侧,并开设有至少一间隔孔;一第二筛网,堆叠结合在该间隔片之另一侧,且该第二筛网开设有数个第二筛孔,其中该第二筛孔之孔径小于该第一筛孔,且该第一筛孔与该第二筛孔于该第一及第二筛网之一垂直方向上形成错位排列;以及至少一感测元件,对位于该第一或第二筛孔,用以侦测通过或落入该第一或第二筛孔之微粒;其中该感测元件包括:数个第一感测元件、至少一第二感测元件或两者,其中该第一感测元件设置于该第一筛网面对该第二筛孔之一侧,且该第一感测元件之直径大于该第二筛孔之孔径;该第二感测元件设置于该第二筛网面对该第一筛孔之一侧,且该第二感测元件之直径大于该第一筛孔之孔径。 |
地址 |
新竹市科学园区展业一路26号7楼 |