发明名称 校正射频参数之方法
摘要 本案提供一种校正射频参数之方法,首先量测一待测物之射频参数电路内之开路参数、短路参数以及负载参数;再将量测到的开路参数测量值、短路参数测量值以及负载参数测量值分别代入指向性误差方程式、讯号源匹配误差方程式以及一反射路径误差方程式,以得出指向性误差、讯号源匹配误差以及反射路径误差;将指向性误差、讯号源匹配误差以及反射路径带入一射频参数方程式以计算出射频参数实际值;判断射频参数实际值是否小于一预设分贝值,若是则进行校正,若否则回复至以重新进行量测。本案可取代价格贵的标准校正套件,并可达到较精准的参数校正。
申请公布号 TW201445152 申请公布日期 2014.12.01
申请号 TW102118836 申请日期 2013.05.28
申请人 矽格股份有限公司 发明人 林建弘;蔡义承;田庆诚;刘启仲
分类号 G01R31/28(2006.01);G01R35/00(2006.01) 主分类号 G01R31/28(2006.01)
代理机构 代理人 <name>林火泉</name>
主权项
地址 新竹县竹东镇北兴路1段436号
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