发明名称 功率半导体元件及其制作方法
摘要 一种功率半导体元件,包含有一基底,具有一第一导电型;一半导体层,设于该基底上,该半导体层具有该第一导电型;复数个交替排列之第一导电型掺杂沟槽及第二导电型掺杂沟槽;一第一导电型扩散区,位于各该第一导电型掺杂沟槽周围之该半导体层中;以及一第二导电型扩散区,位于各该第二导电型掺杂沟槽周围之该半导体层中,其中该第一导电型扩散区及该第二导电型扩散区之间构成一PN接面,且该PN接面与该第一导电型掺杂沟槽之距离等于该PN接面与该第二导电型掺杂沟槽之距离。
申请公布号 TWI463650 申请公布日期 2014.12.01
申请号 TW101124976 申请日期 2012.07.11
申请人 茂达电子股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区笃行一路6号 发明人 林永发;张家豪;石逸群
分类号 H01L29/04;H01L27/092 主分类号 H01L29/04
代理机构 代理人 吴丰任 新北市永和区福和路389号6楼之3;戴俊彦 新北市永和区福和路389号6楼之3
主权项 一种功率半导体元件,包含有:一基底,具有一第一导电型;一半导体层,设于该基底上,该半导体层具有该第一导电型;复数个交替排列之第一导电型掺杂沟槽及第二导电型掺杂沟槽;一第一导电型扩散区,位于各该第一导电型掺杂沟槽周围之该半导体层中;以及一第二导电型扩散区,位于各该第二导电型掺杂沟槽周围之该半导体层中,其中该第一导电型扩散区及该第二导电型扩散区之间构成一PN接面,且该PN接面与该第一导电型掺杂沟槽之距离等于该PN接面与该第二导电型掺杂沟槽之距离。
地址 新竹市新竹科学工业园区笃行一路6号