发明名称 Light-Emitting Diode Properties Measuring Apparatus
摘要 <p>본 발명은 발광 다이오드의 광학적 특성을 측정하는 광계측기와 전기적 특성을 측정하는 전류계를 세트화하여 일체로 구비함으로써 양 특성을 동시에 정확히 측정하는 것이 용이하고, 측정시간의 단축에 따른 제품의 검사시간을 단축시켜 제품의 생산성을 향상시킬 수 있는 발광 다이오드의 특성 측정장치를 제공한다.</p>
申请公布号 KR101466608(B1) 申请公布日期 2014.12.01
申请号 KR20080053738 申请日期 2008.06.09
申请人 发明人
分类号 G01R1/02;G01R31/00 主分类号 G01R1/02
代理机构 代理人
主权项
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