发明名称 记忆体存取方法及应用其之快闪记忆体
摘要 一种记忆体存取方法,用以针对记忆体阵列进行存取。记忆体阵列中之多个记忆胞排列为多个记忆胞串,其受控于列选择(String Select)讯号。记忆体存取方法包括下列步骤。在设定期间中,找出选择记忆胞串及其上之选择记忆胞;将记忆体阵列中其余之记忆胞偏压为导通传输电晶体;及提供放电路径来消除未选择记忆胞串上之耦合电荷。在读取期间中使选择记忆胞串经由金属位元线(Metal Bit Line)连接至感测单元,并经由电压感测机制(Voltage Sensing Scheme)来针对选择记忆胞串上之选择记忆胞进行读取,其中读取期间不与设定期间重叠(Overlapped)。
申请公布号 TWI463497 申请公布日期 2014.12.01
申请号 TW100140945 申请日期 2011.11.09
申请人 旺宏电子股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区力行路16号 发明人 陈重光;洪硕男;洪俊雄
分类号 G11C16/08 主分类号 G11C16/08
代理机构 代理人 祁明辉 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼;林素华 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼
主权项 一种记忆体存取方法,应用于一记忆体控制器中,以针对一记忆体阵列进行存取,其中该记忆体阵列中之复数个记忆胞排列为复数个记忆胞串,该些记忆胞串系由一列选择(String Select)讯号来进行控制,该记忆体存取方法包括:在一设定期间中,提供一记忆胞串偏压讯号至该些记忆胞串中之一选择记忆胞串,并提供一选择字元线(Word-line)讯号至该选择记忆胞串中之一选择记忆胞;在该设定期间中,提供复数个未选择字元线讯号至该记忆体阵列中其余之记忆胞,以使其被偏压为导通传输电晶体(Pass Transistor);在该设定期间中,提供一放电路径连接至该些记忆胞串,以消除该些记忆胞串中至少一个未选择记忆胞串上之耦合电荷;以及在一读取期间中,致能该列选择讯号使得该选择记忆胞串经由一金属位元线(Metal Bit Line)连接至一感测单元,并经由电压感测机制(Voltage Sensing Scheme)来针对该选择记忆胞串上之该选择记忆胞进行读取,其中该读取期间不与该设定期间重叠(Overlapped)。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路16号