发明名称 浸渍曝光用正型光阻组成物及图案形成方法
摘要 一种浸渍曝光用正型光阻组成物包括以下(A)至(D):(A)一种因酸之作用可分解而增加在硷显影剂中溶解度的树脂;(B)一种在以光化射线或辐射照射时可产生酸之化合物;(C)一种具有氟原子与矽原子至少之一的树脂;及(D)一种含至少一种选自由如说明书所定义之下式(S1)至(S3)任一表示之溶剂的溶剂之混合溶剂,其中至少一种溶剂之总量按混合溶剂(D)之全部溶剂计为3至20质量%。;(S1) (S2) (S3)
申请公布号 TWI463260 申请公布日期 2014.12.01
申请号 TW098132454 申请日期 2009.09.25
申请人 富士软片股份有限公司 日本 发明人 山本庆;三枝浩
分类号 G03F7/039;G03F7/004;H01L21/027 主分类号 G03F7/039
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 一种浸渍曝光用正型光阻组成物,其包含以下(A)至(D):(A)一种因酸之作用可分解而增加在硷显影剂中溶解度的树脂;(B)一种在以光化射线或辐射照射时可产生酸之化合物;(C)一种具有氟原子与矽原子至少之一的树脂;及(D)一种含至少一种选自由下式(S1)至(S3)任一表示之溶剂所组成的群组的溶剂之混合溶剂,其中至少一种溶剂之总量按混合溶剂(D)之全部溶剂计为3至20质量%:其中R1至R7各独立地表示烷基、环烷基或芳基;及R1与R2、R3与R4、及R6与R7各可彼此组合形成环;其中该树脂(A)含至少一种由式(1)表示之重复单元:其中在式(1)中,R1表示氢原子、甲基、或由-CH2-R9表示之基;R9表示单价有机基;R2表示烷基或环烷基;及R表示与碳原子一起形成单环脂环结构所需之原子基,及该单环脂环结构具有5或6之碳数。
地址 日本