发明名称 |
BEARBEITUNGSSYSTEM ZUR MIKRO-MATERIALBEARBEITUNG |
摘要 |
Bearbeitungssystem (1) zur Mikro-Materialbearbeitung, aufweisend: ein Focused Ion Beam System (7) zur Bearbeitung eines Objekts (80), welches durch eine Laserbearbeitung vorpräpariert wurde; eine Präparationskammer (83), in welcher die Laserbearbeitung durchführbar ist; einen Laser (10) zur Erzeugung eines Laserstrahls (13) zur Laserbearbeitung; ein Transmissionsfenster (5) für einen Eintritt des Laserstrahls (13) in die Präparationskammer (83); einen Befestigungsflansch (4) zu einer Befestigung des Transmissionsfensters (5) relativ zur Präparationskammer (83); ein Laserstrahlgehäuse (2), in welchem ein kammeraußenseitiger Abschnitt des Laserstrahls (13) verläuft; eine Laserschutzblende (3) zu einem Blendschutz eines Übergangs des Laserstrahls (13) vom Laserstrahlgehäuse (2) in die Präparationskammer (83) in einer ersten Anordnung der Laserschutzblende (3); wobei die Laserschutzblende (3) verlagerbar gehaltert ist zu einer Verlagerung zwischen der ersten Anordnung und einer zweiten Anordnung der Laserschutzblende (3); ... |
申请公布号 |
DE102012012275(B9) |
申请公布日期 |
2014.11.27 |
申请号 |
DE20121012275 |
申请日期 |
2012.06.21 |
申请人 |
CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH |
发明人 |
HIMMELSBACH, VOLKER;ALSCHER, SEBASTIAN;STENKE, BERND;SPITTLER-HERRMANN, ULRICH;DÖMER, HOLGER |
分类号 |
B23K26/70;B23K26/36;H01J37/30 |
主分类号 |
B23K26/70 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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