| 摘要 |
1. Способ определения металлов и комплексных соединений металлов в природных и промышленных объектах, включающий нанесение комплексного соединения определяемого элемента на эмиттер ионов, воздействие на эмиттер ионов импульсным лазерным излучением и детектирование полученных в результате такого воздействия ионов анализатором, отличающийся тем, что в качестве эмиттера ионов используют твердотельную подложку, длину волны лазерного излучения выбирают из условия его поглощения материалом твердотельной подложки и комплексным соединением определяемого элемента, а плотность энергии лазерного излучения выбирают равной или ниже порогового уровня разрушения поверхности твердотельной подложки.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что комплексное соединение определяемого элемента получают путем проведения реакции комплексообразования с органическим реагентом.3. Способ по п.2, отличающийся тем, что органический реагент выбирают из условия селективной реакции комплексообразования определяемого элемента.4. Способ по п.2, отличающийся тем, что реакцию комплексообразования определяемого элемента с органическим реагентом ведут на поверхности твердотельной подложки.5. Способ по п.4, отличающийся тем, что твердотельная подложка выполнена из полупроводникового материала.6. Способ по п.4, отличающийся тем, что твердотельная подложка выполнена из нанокристаллического материала.7. Способ по п.4, отличающийся тем, что в качестве материала твердотельной подложки используют оксиды переходных металлов, или кремний, или германий.8. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве анализатора используют масс-спектрометр или спек� |
