发明名称 确定电介质物体的电介质介电常数的方法
摘要 本发明涉及电子工程领域,且更具体地涉及电介质的电介质介电常数的远程测量。为了确定电介质物体相对于反射体背景的电介质介电常数,利用N个频率的相干微波辐射来照射电介质物体,以便产生电介质物体和反射体的三维微波图像,并且与微波辐射源同步地利用两个或多个视频摄像机来产生视频图像。所述视频图像被转换为数字形式并且构造出给定区域的三维视频图像。三维视频图像和微波图像被转换到一般坐标系统中。计算微波辐射源与没有电介质物体的反射体之间的距离Z<sub>1</sub>以及微波辐射源与电介质物体区域中反射体的微波图像部分之间的距离Z<sub>2</sub>。基于视频图像,在一般坐标系统中确定微波辐射源与电介质物体的视频图像之间的距离Z<sub>3</sub>。随后根据关系(I)来确定电介质物体的电介质介电常数。本发明使得能够远程地确定运动的不规则形状的电介质物体的电介质介电常数。<img file="DDA00001689230600011.GIF" wi="388" he="147" /></maths>
申请公布号 CN102630300B 申请公布日期 2014.11.26
申请号 CN201080053656.X 申请日期 2010.11.24
申请人 阿普斯泰克系统有限公司 发明人 A.V.库兹内特索夫;I.Y.戈尔什科夫;V.P.艾弗亚诺夫
分类号 G01N22/00(2006.01)I 主分类号 G01N22/00(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 史新宏
主权项 一种确定电介质物体相对于反射体背景的电介质介电常数的方法,所述方法包括:利用N个频率的相干微波辐射来照射电介质物体,检测从电介质物体和反射体反射的信号,从而所述方法进一步包括:相干处理检测到的信号并且接收电介质物体和反射体的三维微波图像;使用两个或更多视频摄像机与微波辐射源同步地另外获得一区域的视频图像,所述电介质物体和反射体位于所述区域中;将所获得的视频图像转换为数字形式并且构造所述区域的三维视频图像;将三维视频图像和微波图像转换到一般坐标系统中;根据一般坐标系统中的微波图像,确定微波辐射源与没有电介质物体的反射体的微波图像的部分之间的距离Z<sub>1</sub>、以及微波辐射源与电介质物体的部分中的反射体的微波图像的部分之间的距离Z<sub>2</sub>;基于视频图像,在一般坐标系统中确定微波辐射源与电介质物体的视频图像之间的距离Z<sub>3</sub>;从而根据以下关系确定电介质物体的电介质介电常数ε:<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>&epsiv;</mi><mo>=</mo><msup><mrow><mo>(</mo><mfrac><mrow><msub><mi>z</mi><mn>2</mn></msub><mo>-</mo><msub><mi>z</mi><mn>3</mn></msub></mrow><mrow><msub><mi>z</mi><mn>1</mn></msub><mo>-</mo><msub><mi>z</mi><mn>3</mn></msub></mrow></mfrac><mo>)</mo></mrow><mn>2</mn></msup><mo>.</mo></mrow>]]></math><img file="FDA00001689230400011.GIF" wi="300" he="147" /></maths>
地址 马耳他爱科林