基于对数一阶微分峰值法的缺陷深度测量方法

摘要

基于对数一阶微分峰值法的缺陷深度测量方法，包括如下步骤：a、采用与被测试件相同的材料制作标准试件，标准试件的缺陷深度已知；b、获得标准试件表面的热图序列；c、得到标准试件不同缺陷深度下对数温度-对数时间一阶微分曲线，并提取各缺陷深度下对应曲线峰值的时刻t；d、将缺陷深度平方L²与对应的峰值时刻t线性拟合，得到标准试件的时间-缺陷深度平方线性关系；e、对被测试件重复步骤b和c，得到被测试件曲线峰值时刻为t₁；f、根据步骤d所获得的线性关系和t₁，求出被测试件的缺陷深度L₁。或根据公式：由标准试件得到公式中参数n值；对被测件重复步骤b和c，得到一阶微分峰值时间t₁，利用公式求出被测试件的缺陷深度L₁。

主权项

一种基于对数一阶微分峰值法的缺陷深度测量方法，其特征在于，包括如下步骤：a、采用与被测试件相同的材料制作标准试件，标准试件的缺陷深度已知；b、对标准试件进行加热，获得标准试件表面的热图序列；c、根据获得的热图序列得到标准试件不同缺陷深度下对数温度‑对数时间一阶微分曲线，并提取各缺陷深度下对应曲线峰值的时刻t；d、将缺陷深度平方L²与对应的峰值时刻t线性拟合，得到标准试件的时间‑缺陷深度平方线性关系；e、对被测试件重复步骤b和c，得到被测试件对数温度‑对数时间一阶微分曲线，曲线峰值时刻为t₁；f、根据步骤d所获得的线性关系和t₁，求出被测试件的缺陷深度L₁。