发明名称 降低DRAM软错误的方法
摘要 本发明公开了一种降低DRAM软错误的方法,该方法能够主动检测软错误,智能降低软错误的发生率,使得DRAM中的错误位数保持在DRAM错误纠正能力范围之内,直至没有错误发生,DRAM恢复正常状态,从而提高了内存的可靠性、可用性以及可服务性,该方法可用于为广大客户提供关键任务程序和服务的领域,应用范围广,适用性强。
申请公布号 CN104167224A 申请公布日期 2014.11.26
申请号 CN201410261074.0 申请日期 2014.06.12
申请人 上海新储集成电路有限公司 发明人 景蔚亮;陈邦明
分类号 G11C29/44(2006.01)I 主分类号 G11C29/44(2006.01)I
代理机构 上海申新律师事务所 31272 代理人 吴俊
主权项 一种降低DRAM软错误的方法,应用于计算机系统中,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1,进行DRAM错误检测以获取所述DRAM中数据的错误位数;步骤S2,判断所述DRAM中数据的错误位数是否达到预警值,若否,则进行错误纠正以使所述DRAM恢复正常状态,若是,则进行步骤S3;步骤S3,增加充电电压和/或提高刷新频率以使得所述DRAM中数据的错误位数小于所述预警值,继续进行步骤S2。
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