有源矩阵基板的检查方法

摘要

一种具备扫描线（12）、数据线（11）、矩阵状的发光像素（1a）和电源线（19）的有源矩阵基板的检查方法，发光像素（1a）具备：有机EL元件（13）；驱动晶体管（14）；电容器（15）；选择晶体管（16和17），其连接在数据线（11）与驱动晶体管（14）的栅极之间，且其栅极连接于扫描线（12）；以及保护电位用晶体管（18），其栅极连接于选择晶体管（16）的源极，源极连接于选择晶体管（16）的漏极，漏极连接于电源线（19），检查方法包括：写入步骤（S11），对电容器（15）写入电荷；读出步骤（S13），从电容器（15）读出所写入的电荷；以及保持步骤（S12），保持从写入步骤（S11）结束到读出步骤（S13）开始的预定期间。

主权项

一种有源矩阵基板的检查方法，所述有源矩阵基板具备多条扫描线、多条数据线、在所述多条扫描线的各条与所述多条数据线的各条交叉的每个交叉部配置的多个发光像素、以及对所述多个发光像素供给电流的电源线，所述多个发光像素各自具备：发光元件，其通过流动与经由所述多条数据线之一的数据线供给的数据电压相应的驱动电流来发光；驱动晶体管，其连接在所述电源线与所述发光元件之间，根据施加于栅电极的电压将所述数据电压转换成所述驱动电流；电容器，其一方的电极连接于所述驱动晶体管的栅电极，保持与所述数据电压相应的电压；第1晶体管，其栅电极连接于所述多条扫描线之一的扫描线，源电极和漏电极的一方连接于所述驱动晶体管的栅电极；第2晶体管，其栅电极连接于所述扫描线，源电极和漏电极的一方连接于所述第1晶体管的源电极和漏电极的另一方，源电极和漏电极的另一方连接于所述数据线；第3晶体管，其栅电极连接于所述第1晶体管的所述源电极和所述漏电极的一方，源电极连接于所述第1晶体管的所述源电极和所述漏电极的另一方，漏电极连接于第1电位线；以及第4晶体管，其栅电极与漏电极连接，漏电极连接于所述第1晶体管的所述源电极和所述漏电极的另一方，源电极连接于第2电位线，所述检查方法包括：写入步骤，对所述电容器写入电荷；读出步骤，从所述电容器读出所写入的电荷；以及保持步骤，保持从所述写入步骤结束到所述读出步骤开始的预定期间，所述驱动晶体管、所述第1晶体管、所述第2晶体管以及所述第3晶体管是N型晶体管，所述第1电位线是相对于基准电位的电位被设定成所述电容器所保持的最大电压以上的电位的所述电源线，在所述写入步骤中，从所述电源线对所述电容器写入电荷，在所述读出步骤中，从所述数据线读出对所述电容器写入的电荷，在所述保持步骤中，将所述数据线保持低电平所述预定期间。