发明名称 信道评估装置及方法
摘要 本发明提供一种用于信道评估的装置,包含射频单元、基频单元以及微处理控制单元(简称MCU)。基频单元耦接于射频单元,指示射频单元选择性地跳至一频带的多个可用信道中的一个,经由该已跳入信道,使用虚拟序列以接收多个封包。MCU根据多个封包的接收结果,决定所述的已跳入信道k作为质量优良的信道,以及取消恢复活动的信道的质量不佳的标签而不是所述的已跳入信道k的质量不佳的标签。其中,没有质量不佳的标签的任何信道都可被跳入,且该恢复活动的信道是位于所述的已跳入信道k以及没有质量不佳标签的较高频率的信道g1之间的中间信道,或是位于所述的已跳入信道k以及没有质量不佳标签的较低频率的信道g2之间的所述的中间信道。
申请公布号 CN103036630B 申请公布日期 2014.11.26
申请号 CN201210555842.4 申请日期 2008.08.07
申请人 联发科技股份有限公司 发明人 杨顺斌;许宏凯;黄仲贤;张良正
分类号 H04B17/00(2006.01)I;H04L1/00(2006.01)I;H04L1/20(2006.01)I 主分类号 H04B17/00(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 任默闻
主权项 一种信道评估装置,其特征在于,所述的装置包含:射频单元;基频单元,耦接于所述的射频单元,并指示所述的射频单元选择性地跳至一频带的多个可用信道中的一个,经由已跳入信道使用一虚拟序列以接收多个封包;以及微处理控制单元,耦接于所述的基频单元,所述微处理控制单元根据所述的多个封包的接收结果,决定所述的已跳入信道k作为质量优良的信道,以及取消恢复活动的信道的质量不佳的标签而不是取消所述的已跳入信道k的质量不佳的标签,其中,没有质量不佳的标签的任何信道都可被跳入,且该恢复活动的信道是位于所述的已跳入信道k以及没有质量不佳标签的较高频率的信道g1之间的中间信道,或是位于所述的已跳入信道k以及没有质量不佳标签的较低频率的信道g2之间的所述的中间信道。
地址 中国台湾新竹科学工业园区